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An automated fault injection for evaluation of LUTs robustness in SRAM-based FPGAs

Souari, Anis et Thibeault, Claude et Blaquière, Yves et Velazco, Raoul. 2015. « An automated fault injection for evaluation of LUTs robustness in SRAM-based FPGAs ». In 2015 IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS) (Batumi, GA, USA, Sept. 26-29, 2015) IEEE.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Blaquière, Yves
Affiliation: Génie électrique, Autres
Date de dépôt: 06 juill. 2016 12:53
Dernière modification: 20 févr. 2017 19:57
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/12984

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