Detailed analysis of radiation-induced delays on I/O blocks of an SRAM-based FPGA

Tazi, Fatima Zahra, Thibeault, Claude et Savaria, Yvon. 2016. « Detailed analysis of radiation-induced delays on I/O blocks of an SRAM-based FPGA ». In 2016 IEEE Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE) (Vancouver, BC, Canada, May 15-18, 2016) Piscataway, NJ, USA : IEEE.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/CCECE.2016.7726600

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	02 déc. 2016 19:10
Dernière modification:	02 déc. 2016 19:10
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14079

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