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Faults diagnosis methodology for the waferNet interconnection network

Basile-Bellavance, Yan et Blaquière, Yves et Savaria, Yvon. 2009. « Faults diagnosis methodology for the waferNet interconnection network ». In Joint IEEE North-East Workshop on Circuits and Systems and TAISA Conference (NEWCAS-TAISA) (Toulouse, France, June 28-July 01, 2009) IEEE Computer Society.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Blaquière, Yves
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 21 févr. 2017 14:58
Dernière modification: 21 févr. 2017 14:58
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14640

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