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Defect diagnosis algorithms for a field programmable interconnect network embedded in a very large area integrated circuit

Sion, Gontran et Blaquière, Yves et Savaria, Yvon. 2015. « Defect diagnosis algorithms for a field programmable interconnect network embedded in a very large area integrated circuit ». In 21st IEEE International On-Line Testing Symposium (IOLTS) (Halkidiki, Greece, July 06-08, 2015), p. 83-88. IEEE.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Blaquière, Yves
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 21 févr. 2017 14:53
Dernière modification: 21 févr. 2017 14:53
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14660

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