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Using a deformation field model for localizing faces and facial points under weak supervision

Pedersoli, Marco et Tuytelaars, Tinne et Van Gool, Luc. 2014. « Using a deformation field model for localizing faces and facial points under weak supervision ». In IEEE Conference on Computer Vision and Pattern Recognition (CVPR) (Columbus, OH, United states, June 23-28, 2014), p. 3694-3701. IEEE Computer Society.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Pedersoli, Marco
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 06 avr. 2017 14:45
Dernière modification: 06 avr. 2017 14:45
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/14967

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