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Functional size measurement patterns: A proposed approach

Trudel, Sylvie et Desharnais, Jean-Marc et Cloutier, Jimmy. 2016. « Functional size measurement patterns: A proposed approach ». In 26th International Workshop on Software Measurement and the 11th International Conference on Software Process and Product Measurement (IWSM-Mensura) (Berlin, Germany, Oct. 05-07, 2016), p. 23-34. IEEE.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Desharnais, Jean-Marc
Affiliation: Génie logiciel et des technologies de l'information
Date de dépôt: 08 juin 2017 19:30
Dernière modification: 08 juin 2017 19:30
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/15317

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