La vitrine de diffusion des publications et contributions des chercheurs de l'ÉTS
RECHERCHER

A new delay testing signal scheme robust to power distribution network impedance variation

Thibeault, Claude et Louati, Ali. 2017. « A new delay testing signal scheme robust to power distribution network impedance variation ». In IEEE 35th VLSI Test Symposium (VTS) (Las Vegas, NV, USA,, Apr. 09-12, 2017) IEEE Computer Society.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.
Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 18 juill. 2017 15:59
Dernière modification: 18 juill. 2017 15:59
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/15648

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt Dernière vérification avant le dépôt