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Analysis of backscattered ultrasound amplitude of Ti-5.8Al-4Sn-3.5Zr-0.7Nb-0.5Mo-0.3Si samples in terms of their microstructures and local textures

Humbert, M. et Moreau, A. et Uta, E. et Gey, N. et Bocher, Philippe et Bescond, C.. 2009. « Analysis of backscattered ultrasound amplitude of Ti-5.8Al-4Sn-3.5Zr-0.7Nb-0.5Mo-0.3Si samples in terms of their microstructures and local textures ». Acta Materialia, vol. 57, nº 3. p. 708-714.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Bocher, Philippe
Affiliation: Génie mécanique
Date de dépôt: 13 juin 2012 18:13
Dernière modification: 28 oct. 2016 18:50
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/1578

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