DEBS grand challenge: Solving manufacturing equipment monitoring through efficient complex event processing

Rabl, Tilmann, Zhang, Kaiwen, Sadoghi, Mohammad, Pandey, Navneet Kumar, Nigam, Aakash, Wang, Chen et Jacobsen, Hans-Arno. 2012. « DEBS grand challenge: Solving manufacturing equipment monitoring through efficient complex event processing ». In Proceedings of the 6th ACM International Conference on Distributed Event-Based Systems (DEBS'12) (Berlin, Germany, July 16-20, 2012) pp. 335-340. Association for Computing Machinery.
Compte des citations dans Scopus : 4.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.

Type de document:	Compte rendu de conférence
Professeur:	Professeur Zhang, Kaiwen
Affiliation:	Autres
Date de dépôt:	16 janv. 2018 16:54
Dernière modification:	16 janv. 2018 16:54
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/16152

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt