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Experimental study of biaxial and uniaxial strain effects on carrier mobility in bulk and ultrathin-body SOI MOSFETs

Uchida, Ken et Zednik, Ricardo et Lu, Ching-Huang et Jagannathan, Hemanth et McVittie, James et McIntyre, Paul C. et Nishi, Yoshio. 2004. « Experimental study of biaxial and uniaxial strain effects on carrier mobility in bulk and ultrathin-body SOI MOSFETs ». In IEEE International Electron Devices Meeting (San Francisco, CA, USA, Dec. 13-15, 2004), p. 229-232. IEEE.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Zednik, Ricardo
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 23 janv. 2018 17:11
Dernière modification: 23 janv. 2018 17:11
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/16193

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