Diagnosis algorithms for a reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain in large area integrated circuits

Berrima, Safa, Blaquière, Yves et Savaria, Yvon. 2018. « Diagnosis algorithms for a reconfigurable and defect tolerant JTAG scan chain in large area integrated circuits ». Integration, vol. 62. pp. 159-169.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1016/j.vlsi.2018.02.010

Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Blaquière, Yves
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	27 mars 2018 16:07
Dernière modification:	22 janv. 2020 19:35
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/16514

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