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Delay monitor circuit and delay change measurement due to SEU in SRAM-based FPGA

Darvishi, Mostafa et Audet, Yves et Blaquière, Yves. 2018. « Delay monitor circuit and delay change measurement due to SEU in SRAM-based FPGA ». IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 65, nº 5. p. 1153-1160.

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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Blaquière, Yves
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 09 juill. 2018 15:19
Dernière modification: 09 juill. 2018 15:19
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/16814

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