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Enhanced micro modeling technique for semiconductor devices to study faulty mode in power converters

Charfi, F. et Messaoud, M. B. et François, B. et Al-Haddad, Kamal et Sellami, F.. 2007. « Enhanced micro modeling technique for semiconductor devices to study faulty mode in power converters ». International Review of Electrical Engineering, vol. 2, nº 3. p. 327-336.

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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Al Haddad, Kamal
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 13 juin 2012 18:14
Dernière modification: 01 oct. 2015 20:01
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/1731

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