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Determining stresses in silicon-based microdevices using fractography

Moulins, A., Grosse, G., Esteves, A., Dugnani, R. et Zednik, R.. 2018. « Determining stresses in silicon-based microdevices using fractography ». Affiche présentée lors de la conférence : Nanomaterials for Devices (Montreal, QC, Canada, Sept. 10-12, 2018).

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Type de document: Affiche
Informations complémentaires: Le résumé de l'affiche est disponible à la page 48 de Nanomaterials for devices : Italy/Canada Bilateral Workshop : Abstracts http://nanomaterialsfordevices.ism.cnr.it/wp-content/uploads/2018/09/Book-of-abstracts.pdf
Professeur:
Professeur
Zednik, Ricardo
Affiliation: Génie mécanique
Date de dépôt: 05 nov. 2018 18:57
Dernière modification: 22 janv. 2020 20:17
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/17485

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