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Characterization of thin film materials using near field THz imaging

Amirkhan, F., Sakata, R., Takiguchi, K., Arikawa, T., Ozaki, T., Tanaka, K. et Blanchard, F.. 2019. « Characterization of thin film materials using near field THz imaging ». Affiche présentée lors de la conférence : LACIME First Annual Congress (Montreal, QC, Canada, Fev. 21, 2019).

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Type de document: Affiche
Professeur:
Professeur
Blanchard, François
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 06 août 2019 18:35
Dernière modification: 22 janv. 2020 19:31
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/19065

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