Bousnina, Sami et Falt, Chris et Mandeville, Pierre et Kouki, Ammar B. et Ghannouchi, Fadhel M..
2002.
« An accurate on-wafer deembedding technique with application to HBT devices characterization ».
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, vol. 50, nº 2.
p. 420-424.
Compte des citations dans Scopus : 21.
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| Type de document: |
Article publié dans une revue, révisé par les pairs
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| Professeur: |
| Professeur |
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| Kouki, Ammar B. |
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| Affiliation: |
Génie électrique |
| Date de dépôt: |
29 oct. 2012 20:47 |
| Dernière modification: |
29 oct. 2012 20:47 |
| URI: |
http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2152 |
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