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A fast method to evaluate the optimum number of spares in defect-tolerant integrated-circuits

Thibeault, Claude et Savaria, Yvon et Houle, Jean louis. 1994. « A fast method to evaluate the optimum number of spares in defect-tolerant integrated-circuits ». IEEE Transactions on Computers, vol. 43, nº 6. p. 687-697.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 29 oct. 2012 20:47
Dernière modification: 29 oct. 2012 20:47
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2231

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