La vitrine de diffusion des publications et contributions des chercheurs de l'ÉTS
RECHERCHER

Introducing root-cause analysis and orthogonal defect classification at lower CMMI maturity levels

Buglione, Luigi et Abran, Alain. 2006. « Introducing root-cause analysis and orthogonal defect classification at lower CMMI maturity levels ». In Proceedings of the International Conference on Software Process and Product Measurement : MENSURA 2006 (Cadiz, Spain, Nov. 4-5, 2006), p. 29-41. Servicio de Publicaciones de la Universidad de Cádiz.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.
Type de document: Compte rendu de conférence
Éditeurs:
Éditeurs
Abran, Alain
Dumke, Reiner
Ruitz, Mercedes
Professeur:
Professeur
Abran, Alain
Affiliation: Génie logiciel et des technologies de l'information
Date de dépôt: 29 oct. 2012 20:48
Dernière modification: 29 oct. 2012 20:48
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2401

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt Dernière vérification avant le dépôt