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Introducing root-cause analysis and orthogonal defect classification at lower CMMI maturity levels

Buglione, Luigi et Abran, Alain. 2006. « Introducing root-cause analysis and orthogonal defect classification at lower CMMI maturity levels ». In Proceedings of the International Conference on Software Process and Product Measurement : MENSURA 2006 (Cadiz, Spain, Nov. 4-5, 2006) pp. 29-41. Servicio de Publicaciones de la Universidad de Cádiz.

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Type de document: Compte rendu de conférence
ISBN: 978-84-9828-101-9
Éditeurs:
Éditeurs
ORCID
Abran, Alain
NON SPÉCIFIÉ
Dumke, Reiner
NON SPÉCIFIÉ
Ruitz, Mercedes
NON SPÉCIFIÉ
Professeur:
Professeur
Abran, Alain
Affiliation: Génie logiciel et des technologies de l'information
Date de dépôt: 29 oct. 2012 20:48
Dernière modification: 29 oct. 2012 20:48
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2401

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