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Use of structural tests in RTL verification

Hobeika, Christelle et Thibeault, Claude et Boland, Jean-François. 2008. « Use of structural tests in RTL verification ». In 1st Microsystems and Nanoelectronics Research Conference (MNRC) (Ottawa, Canada, Oct. 15, 2008), p. 133-136. Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Boland, Jean-François
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 30 oct. 2012 18:18
Dernière modification: 30 oct. 2012 18:18
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2757

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