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Evaluating the usefulness of a functional size measurement procedure to detect defects in MDD models

Marìn, Beatriz et Giachetti, Giovanni et Pastor, Oscar et Vos, Tanja E. J. et Abran, Alain. 2010. « Evaluating the usefulness of a functional size measurement procedure to detect defects in MDD models ». In 4th International Symposium on Empirical Software Engineering and Measurement (ESEM) (Bolzano-Bozen, Italy, Sept. 16-17, 2010) New York, NY, USA : Association for Computing Machinery.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Informations complémentaires: ESEM 2010
Professeur:
Professeur
Abran, Alain
Affiliation: Génie logiciel et des technologies de l'information
Date de dépôt: 23 mai 2012 17:55
Dernière modification: 23 mai 2012 17:55
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/291

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