Thibeault, Claude, Savaria, Yvon et Houle, Jean louis.
1992.
« Test quality of hierarchical defect-tolerant integrated circuits ».
Journal of Electronic Testing, vol. 3, nº 1.
pp. 93-102.
Compte des citations dans Scopus : 3.
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URL Officielle: http://link.springer.com/article/10.1007%2FBF00159...
Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
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Professeur: | Professeur Thibeault, Claude |
Affiliation: | Génie électrique |
Date de dépôt: | 19 févr. 2013 16:26 |
Dernière modification: | 19 févr. 2013 16:26 |
URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3584 |
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