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Test quality of hierarchical defect-tolerant integrated circuits

Thibeault, Claude et Savaria, Yvon et Houle, Jean louis. 1992. « Test quality of hierarchical defect-tolerant integrated circuits ». Journal of Electronic Testing, vol. 3, nº 1. p. 93-102.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 19 févr. 2013 16:26
Dernière modification: 19 févr. 2013 16:26
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3584

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