ENGLISH
La vitrine de diffusion des publications et contributions des chercheurs de l'ÉTS
RECHERCHER

Test quality of hierarchical defect-tolerant integrated circuits

Thibeault, Claude, Savaria, Yvon et Houle, Jean louis. 1992. « Test quality of hierarchical defect-tolerant integrated circuits ». Journal of Electronic Testing, vol. 3, nº 1. pp. 93-102.
Compte des citations dans Scopus : 3.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.
Rechercher dans Google Scholar
Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 19 févr. 2013 16:26
Dernière modification: 19 févr. 2013 16:26
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3584

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt Dernière vérification avant le dépôt