La vitrine de diffusion des publications et contributions des chercheurs de l'ÉTS
RECHERCHER

Using fourier analyses to enhance IC testability

Thibeault, Claude. 1995. « Using fourier analyses to enhance IC testability ». Journal of Microelectronic Systems Integration, vol. 3, nº 2. p. 83-96.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.
Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 19 févr. 2013 16:26
Dernière modification: 19 févr. 2013 16:26
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3585

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt Dernière vérification avant le dépôt