FRANÇAIS
A showcase of ÉTS researchers’ publications and other contributions
SEARCH

Method and apparatus for testing a device in an electronic component

Belzile, Jean, Thibeault, Claude, Gagnon, François et Batani, Naïm K. (inventeurs) 16 October 2007. « Method and apparatus for testing a device in an electronic component ». Socovar S.E.C, Thibeault, Claude, Gagnon, François (titulaire(s)). Brevet américain US 7,284,178.

The full text of this document is not available here.
Rechercher dans Google Scholar
Item Type: Patents (Brevet américain)
Professor:
Professor
Belzile, Jean
Thibeault, Claude
Gagnon, François
Batani, Naïm
Affiliation: Génie électrique, Génie électrique, Génie électrique, Génie électrique
Date Deposited: 18 Apr 2013 19:00
Last Modified: 26 Aug 2019 20:20
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3868

Actions (login required)

View Item View Item