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Method and apparatus for testing a device in an electronic component

Belzile, Jean et Thibeault, Claude et Gagnon, François et Batani, Naïm K. (inventeurs) 16 Octobre 2007. « Method and apparatus for testing a device in an electronic component ». Socovar S.E.C, Thibeault, Claude, Gagnon, François (titulaire(s)). Brevet américain US 7,284,178.

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Type de document: Brevet (Brevet américain)
Professeur:
Professeur
Belzile, Jean
Thibeault, Claude
Gagnon, François
Batani, Naïm
Affiliation: Génie électrique, Unité administrative
Date de dépôt: 18 avr. 2013 19:00
Dernière modification: 12 juill. 2016 20:22
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/3868

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