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Biaxial testing at different temperatures of cruciform Ti-Ni samples

Terriault, Patrick et Settouane, Karim et Brailovski, Vladimir. 2003. « Biaxial testing at different temperatures of cruciform Ti-Ni samples ». In International Conference on Shape Memory and Superelastic Technologies (SMST) (Pacific Grove, CA, USA, May 5-8, 2003), p. 247-257. Menlo Park, CA, USA : SMST.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Éditeurs:
Éditeurs
Pelton, A. R.
Duerig, T.
Professeur:
Professeur
Terriault, Patrick
Brailovski, Vladimir
Affiliation: Génie mécanique
Date de dépôt: 18 avr. 2013 19:01
Dernière modification: 18 avr. 2013 19:01
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4081

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