Testing for parasitic memory effect in SRAMs

Irobi, Sandra, Al-Ars, Zaid, Hamdioui, Said et Thibeault, Claude. 2011. « Testing for parasitic memory effect in SRAMs ». In 20th Asian Test Symposium (ATS) (New Delhi, India, Nov. 20-23, 2011) pp. 407-412. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1109/ATS.2011.76

Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	978-1-4577-1984-4
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	18 avr. 2013 19:02
Dernière modification:	18 avr. 2013 19:02
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4210

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