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A cost model for VLSI/MCM systems

Kafrouni, M. et Thibeault, Claude et Savaria, Yvon. 1997. « A cost model for VLSI/MCM systems ». In IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Paris, France, Oct. 20-22, 1997), p. 148-156. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 18 avr. 2013 19:03
Dernière modification: 18 avr. 2013 19:03
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4590

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