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Using sinusoidal stimuli and Fourier analyses for memory IC testing

Thibeault, Claude. 1994. « Using sinusoidal stimuli and Fourier analyses for memory IC testing ». In IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing (San Jose, CA, USA, Aug. 8-9, 1994), p. 92-97. Piscataway, NJ, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 18 avr. 2013 19:04
Dernière modification: 18 avr. 2013 19:04
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4714

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