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On new current signatures and adaptive test technique combination

Thibeault, Claude. 2004. « On new current signatures and adaptive test technique combination ». In 22nd IEEE VLSI Test Symposium (Napa Valley, CA, USA, Apr. 25-29, 2004), p. 59-64. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 18 avr. 2013 19:04
Dernière modification: 18 avr. 2013 19:04
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4722

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