ENGLISH
La vitrine de diffusion des publications et contributions des chercheurs de l'ÉTS
RECHERCHER

Experimental results from I-DDF testing

Thibeault, Claude et Payeur, A.. 1996. « Experimental results from I-DDF testing ». In IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Boston, MA, USA, Nov. 6-8, 1996) pp. 185-193. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.
Rechercher dans Google Scholar
Type de document: Compte rendu de conférence
ISBN: 0-8186-7545-4
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 18 avr. 2013 19:04
Dernière modification: 18 avr. 2013 19:04
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4726

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt Dernière vérification avant le dépôt