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Experimental results from I-DDF testing

Thibeault, Claude et Payeur, A.. 1996. « Experimental results from I-DDF testing ». In IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Boston, MA, USA, Nov. 6-8, 1996), p. 185-193. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers Computer Society.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 18 avr. 2013 19:04
Dernière modification: 18 avr. 2013 19:04
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4726

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