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Electrical resistivity characterization of silicon carbide by various methods

Bouanga, C. Vanga et Savoie, S. et Fréchette, M. F. et Couderc, H. et David, Éric. 2012. « Electrical resistivity characterization of silicon carbide by various methods ». In Conference Record of the 2012 IEEE International Symposium on Electrical Insulation (ISEI) (San Juan, PR, USA, June 10-13, 2012 ), p. 43-47. Piscataway, N.J. : Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc..
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
David, Éric
Affiliation: Génie mécanique
Date de dépôt: 24 juill. 2013 20:44
Dernière modification: 24 juill. 2013 20:44
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/5223

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