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Quick Profiler (QuiP) : a friendly tool to extract roughness statistical parameters using a needle profiler

Trudel, Mélanie et Charbonneau, François et Avendano, Fernando et Leconte, Robert. 2010. « Quick Profiler (QuiP) : a friendly tool to extract roughness statistical parameters using a needle profiler ». Canadian Journal of Remote Sensing = Journal Canadien de Télédétection, vol. 36, nº 4. p. 391-396.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Leconte, Robert
Affiliation: Génie de la construction
Date de dépôt: 23 mai 2012 17:56
Dernière modification: 23 mai 2012 17:56
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/543

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