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The contribution of functional size measurers in defects inspections : a case study with inexperienced measurers

Trudel, Sylvie et Abran, Alain. 2010. « The contribution of functional size measurers in defects inspections : a case study with inexperienced measurers ». International Journal of Computing and Information Sciences, vol. 11, nº 3.

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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Abran, Alain
Affiliation: Génie logiciel et des technologies de l'information
Date de dépôt: 23 mai 2012 17:56
Dernière modification: 23 mai 2012 17:56
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/544

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