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Tailoring of the electrical properties of silicon carbide for field grading application

Vanga-Bouanga, C. et Heid, T. F. et David, Éric et Frechette, M. F. et Savoie, S.. 2013. « Tailoring of the electrical properties of silicon carbide for field grading application ». In 2013 31st IEEE Electrical Insulation Conference (EIC 2013) (Ottawa, ON, Canada, June 2-5, 2013), p. 263-266. Piscataway, NJ, USA : IEEE.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
David, Éric
Affiliation: Génie mécanique
Date de dépôt: 04 déc. 2013 19:07
Dernière modification: 06 déc. 2013 19:16
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/6099

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