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A methodology for system-level fault injection based on gate-level faulty behavior

Robache, R. et Boland, Jean-François et Thibeault, Claude et Savaria, Y.. 2013. « A methodology for system-level fault injection based on gate-level faulty behavior ». In 2013 IEEE 11th International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS) (Paris, France, June 16-19, 2013) Piscataway, N. J., USA : IEEE.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Boland, Jean-François
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 12 déc. 2013 20:09
Dernière modification: 13 mai 2016 16:55
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/6231

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