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A library-based early soft error sensitivity analysis technique for SRAM-based FPGA design

Thibeault, Claude et Hariri, Y. et Hasan, S. R. et Hobeika, C. et Savaria, Y. et Audet, Y. et Tazi, F. Z.. 2013. « A library-based early soft error sensitivity analysis technique for SRAM-based FPGA design ». Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, vol. 29, nº 4. p. 457-471.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 12 déc. 2013 20:09
Dernière modification: 12 mai 2016 14:24
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/6283

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