A library-based early soft error sensitivity analysis technique for SRAM-based FPGA design

Thibeault, Claude, Hariri, Y., Hasan, S. R., Hobeika, C., Savaria, Y., Audet, Y. et Tazi, F. Z.. 2013. « A library-based early soft error sensitivity analysis technique for SRAM-based FPGA design ». Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, vol. 29, nº 4. pp. 457-471.
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Type de document:	Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:	Professeur Thibeault, Claude
Affiliation:	Génie électrique
Date de dépôt:	12 déc. 2013 20:09
Dernière modification:	12 mai 2016 14:24
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/6283

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