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Using Fourier analyses to enhance IC testability

Thibeault, Claude. 1994. « Using Fourier analyses to enhance IC testability ». In IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Los Alamitos, CA, USA, Oct. 17-19, 1994), p. 280-288. IEEE Computer Society Press.
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 27 mars 2014 16:00
Dernière modification: 27 mars 2014 16:00
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/7337

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