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An inexpensive method of testing localized parametric defects in static RAM

Savaria, Y. et Thibeault, Claude. 1993. « An inexpensive method of testing localized parametric defects in static RAM ». In Records of the 1993 IEEE International workshop on memory testing (San Jose, CA, USA, Aug. 9-10, 1993), p. 90-95. Institute of Electrical and Electronics Engineers.

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 23 déc. 2014 14:55
Dernière modification: 23 déc. 2014 14:55
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9210

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