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Comparing results from defect-tolerant yield models

Thibeault, Claude et Savaria, Y.. 1992. « Comparing results from defect-tolerant yield models ». In Proceedings 1992 IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (Dallas, TX, USA, Nov. 4-6, 1992), p. 22-31. Los Alamitos, CA, USA : Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE).

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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 23 déc. 2014 14:55
Dernière modification: 23 déc. 2014 14:55
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9234

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