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Circuit level modeling of extra combinational delays in SRAM-based FPGAs due to transient ionizing radiation

Darvishi, Mostafa et Audet, Yves et Blaquière, Yves et Thibeault, Claude et Pichette, Simon et Tazi, Fatima Zahra. 2014. « Circuit level modeling of extra combinational delays in SRAM-based FPGAs due to transient ionizing radiation ». IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 61, nº 6. p. 3535-3542.

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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Blaquière, Yves
Thibeault, Claude
Affiliation: Autres, Génie électrique
Date de dépôt: 25 févr. 2015 21:50
Dernière modification: 20 févr. 2017 19:15
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9345

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