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A probabilistic model to learn, detect, localize and classify patterns in arbitrary images

Toews, Matthew. 2008. « A probabilistic model to learn, detect, localize and classify patterns in arbitrary images ». Thèse de doctorat. Montreal, McGill University, 183 p.

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Type de document: Mémoire ou thèse (Thèse de doctorat)
Professeur:
Professeur
Toews, Matthew
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 25 juin 2015 15:36
Dernière modification: 01 oct. 2015 20:44
URI: https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9734

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