La vitrine de diffusion des publications et contributions des chercheurs de l'ÉTS
RECHERCHER

A probabilistic model to learn, detect, localize and classify patterns in arbitrary images

Toews, Matthew. 2008. « A probabilistic model to learn, detect, localize and classify patterns in arbitrary images ». Thèse de doctorat. Montreal, McGill University, 183 p.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.
Type de document: Mémoire ou thèse (Thèse de doctorat)
Professeur:
Professeur
Toews, Matthew
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 25 juin 2015 15:36
Dernière modification: 01 oct. 2015 20:44
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9734

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt Dernière vérification avant le dépôt