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SIFT-Rank: Ordinal description for invariant feature correspondence

Toews, Matthew et Wells, William III. 2009. « SIFT-Rank: Ordinal description for invariant feature correspondence ». In IEEE Conference onComputer Vision and Pattern Recognition, 2009. CVPR 2009 (Miami, FL, USA, June 20-25, 2009), p. 172-177. Piscataway, NJ, USA : IEEE Computer Society.
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Toews, Matthew
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 25 juin 2015 15:45
Dernière modification: 05 févr. 2016 22:18
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9750

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