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MOSFET threshold extraction from voltage-only measurements

Galup-Montoro, C. et Schneider, M. C. et Koerich, A. L. et Pinto, R. L. O.. 1994. « MOSFET threshold extraction from voltage-only measurements ». Electronics Letters, vol. 30, nº 17. p. 1458-1459.
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Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Lameiras Koerich, Alessandro
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 06 juill. 2015 19:46
Dernière modification: 09 févr. 2016 21:02
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9779

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