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MOSFET threshold extraction from voltage-only measurements

Schneider, M. C. et Galup-Montoro, C. et Koerich, A. L. et Pinto, R. L. O.. 1994. « MOSFET threshold extraction from voltage-only measurements ». In IX Brazilian Microelectronics Congress (SBMICRO'1994) (Rio de Janeiro, Brazil, Aug., 1994), p. 216-222.
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Type de document: Compte rendu de conférence
Professeur:
Professeur
Lameiras Koerich, Alessandro
Affiliation: Autres
Date de dépôt: 07 juill. 2015 15:59
Dernière modification: 09 févr. 2016 21:02
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/9859

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