Thibeault, Claude.
2003.
« On faster IDDQ measurements ».
Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, vol. 19, nº 6.
pp. 625-635.
Rechercher dans Google Scholar
URL Officielle: http://dx.doi.org/10.1023/A:1027418704942
| Type de document: | Article publié dans une revue, révisé par les pairs |
|---|---|
| Professeur: | Professeur Thibeault, Claude |
| Affiliation: | Génie électrique |
| Date de dépôt: | 29 oct. 2012 20:47 |
| Dernière modification: | 07 sept. 2024 17:38 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2228 |
Actions (Authentification requise)
 |
Dernière vérification avant le dépôt |