Biaxial testing at different temperatures of cruciform Ti-Ni samples

Terriault, Patrick, Settouane, Karim et Brailovski, Vladimir. 2003. « Biaxial testing at different temperatures of cruciform Ti-Ni samples ». In International Conference on Shape Memory and Superelastic Technologies (SMST) (Pacific Grove, CA, USA, May 5-8, 2003) pp. 247-257. Menlo Park, CA, USA : SMST.

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Type de document:	Compte rendu de conférence
ISBN:	0-9660508-3-5
Éditeurs:	Éditeurs ORCID Pelton, A. R. NON SPÉCIFIÉ Duerig, T. NON SPÉCIFIÉ
Professeur:	Professeur Terriault, Patrick Brailovski, Vladimir
Affiliation:	Génie mécanique
Date de dépôt:	18 avr. 2013 19:01
Dernière modification:	18 avr. 2013 19:01
URI:	https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/4081

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