Potvin, Marc et Tahan, Antoine. 2010. « Investigation metrology ». Communication lors de la conférence : 3D Imaging Conference and Exposition (Anaheim, Ca., USA, May 18-20, 2010).
Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.| Type de document: | Communication (Communication) |
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| Informations complémentaires: | Présenté avec RAPID 2010 Conference & Exposition |
| Professeur: | Professeur Tahan, Antoine |
| Affiliation: | Génie mécanique |
| Date de dépôt: | 23 mai 2012 17:54 |
| Dernière modification: | 13 avr. 2023 16:08 |
| URI: | https://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/112 |
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