La vitrine de diffusion des publications et contributions à la recherche à l'ÉTS
RECHERCHER

IEEE VLSI Test Symposium : meeting the quality challenge

Savaria, Yvon et Thibeault, Claude et Ivanov, Andre. 1996. « IEEE VLSI Test Symposium : meeting the quality challenge ». IEEE Design & Test of Computers, vol. 13, nº 4. p. 110-112.

Le plein texte de ce document n'est pas hébergé sur ce serveur.
Type de document: Article publié dans une revue, révisé par les pairs
Professeur:
Professeur
Thibeault, Claude
Affiliation: Génie électrique
Date de dépôt: 29 oct. 2012 20:47
Dernière modification: 29 oct. 2012 20:47
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/2206

Actions (Authentification requise)

Dernière vérification avant le dépôt Dernière vérification avant le dépôt