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Robust design of terminal iterative learning control with μ-analysis approach : applied for thermoforming oven control

Gauthier, Guy et Boulet, Benoît. 2010. « Robust design of terminal iterative learning control with μ-analysis approach : applied for thermoforming oven control ». In 1st Virtual Control Conference (VCC) (AAlborg, Denmark, Sept. 21-23, 2010)

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Type de document: Compte rendu de conférence
Informations complémentaires: VCC 2010
Professeur:
Professeur
Gauthier, Guy
Affiliation: Génie de la production automatisée
Date de dépôt: 23 mai 2012 17:55
Dernière modification: 23 mai 2012 17:55
URI: http://espace2.etsmtl.ca/id/eprint/223

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